Titel:
Segmentierung und Augmentierung von Rasterelektronenmikroskopie-Daten mittels Deep Learning-Methoden
Autoren:
Bielefeld, A.; Weiß, A.; Rekers, R.; Vaez, S.; Pawlowski, M. (Zentrum für Materialforschung, Justus-Liebig-Universität Gießen)
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